- Tytuł:
- Trafność pomiaru jako podstawa obiektywizacji egzaminów szkolnych
- Temat:
- Egzaminy szkolne - materiały konferencyjne
Oceny szkolne - materiały konferencyjne
Testy - materiały konferencyjne - Rok wydania:
- 2003
- Wydawca:
- Łódź : Wydawnictwo Wyższej Szkoły Humanistyczno-Ekonomicznej
- ISBN:
- 838781492X
- Opis fizyczny:
- 395 s. : rys., wykr. ; 24 cm
- Książka